冠層分析儀又叫葉面積指數(shù)儀，顧名思義是測定植物冠層結構的儀器。它是根據(jù)光線穿過介質(zhì)減弱的比爾定律，測算植物冠層的太陽直射光透過率、葉面積指數(shù)等，采用半理論半經(jīng)驗的公式，通過冠層孔隙率的測定，計算出冠層結構參數(shù)。

　　該分析儀可用于農(nóng)作物、果樹、森林內(nèi)冠層受光狀況的測量和分析;可對農(nóng)田作物群體生長過程進行動態(tài)監(jiān)測;也適用于農(nóng)業(yè)、園藝、林業(yè)領域有關栽培、育種、植物群體對比與發(fā)展的研究與教學。

　　冠層分析儀采用了冠層孔隙率與冠層結構相關的原理。它是根據(jù)光線穿過介質(zhì)減弱的比爾定律，在對植物冠層定義了一系列假設前提的條件下，采用半理論半經(jīng)驗的公式，通過冠層孔隙率的測定，計算出冠層結構參數(shù)。這是目前世界上各種冠層儀一致采用的原理。在上述原理下， 植物冠層圖象分析儀采用的是對冠層下天穹半球圖像分析測量冠層孔隙率的方法，該方法是各類方法中和省力、省時、快捷方便的方法。

　　本產(chǎn)品是專門為植物冠層結構測量設計的小型魚眼攝像鏡頭安裝在萬向平衡接頭上，可自動保持鏡頭處于水平狀態(tài)鏡頭安裝在測桿一端，可以方便地水平向前或垂直向上伸入到茂密的冠層中；

　　測桿一端的通迅線可聯(lián)接在計算機上，方便取圖操作由于小巧和帶有測桿，可伸入冠層不同高度處，快速地進行分層測量，測出群體內(nèi)光透過率和葉面積指數(shù)垂直分布圖，冠層分析儀測桿上附帶有線性ＰＡＲ探頭，同時可測量冠層內(nèi)外的光量子通量密度(μmol/㎡?S)值，該值可以做為冠層內(nèi)能量分析的參考值。